HNDL100丝测试仪 熔断丝测试仪
项目
要求及指标
输入电压范围
220V±10﹪,50Hz/60Hz
测试电流范围
0.5~150A,1﹪RD±0.2﹪fs
测试开路电压精度
1﹪RD±0.2﹪fs
试验模式
熔断时间测试 M1和耐久性测试M2
测试时间范围
M1 模式时间范围:10mS--60分钟
M2 模式时间范围:10mS--100小时
耐久性时间设置
0~99H59M
次数设置
0~9999次
时间分辨率
10ms
测试电流步
50mA~1A,可设置
测试电流精度
M1 模式< ±0.4﹪SET + 50mA(‘SET’为设置数值),
M2 模式<±0.5﹪SET + 100mA(‘SET’为设置数值)
测试时间精度
M1 模式< ±10mS+0.3﹪RD(‘RD’为实际工作时间数值),
M2 模式<±10mS+0.5﹪RD(‘RD’为实际工作时间数值)
显示方式
7 寸触摸屏显示
控制方式
FPGA+ARM 控制
其他
支持外接 U 盘拷贝试验数据、数据保存功能,免费开放通信接口及提供底层通信协议
晋中丝熔断测试仪ZA-208T中岸操作说明智能丝测试仪是一款用于小型熔断器性能测试的用仪器,用于管熔断时间、熔断电流的检测,满足标准G 9364.1-2015 、GB 9364.3-2018相关标准中的熔断、耐久性试验要求。本仪器采用7寸显示触摸屏显示和参数设置,采用ARM控制器进行控制采集,试验电流高达200A的试验设备。具有操作简便,智能可靠等特点。
可能出现过流的情况在板烧写:在插拔线过程中,因为接错线而导致短路过流;PCB板在生产过程中有焊接短路问题,当编程器给其上电时就会出现过流现象;PCB板上有大容量电容,编程器给PCB板上电瞬间浪涌电流过大,从而误触发过流保护机制。裸片烧写:把芯片放到烧录座时,由于芯片放偏或芯片引脚偏斜,造成编程器上电时短路过流;将芯片从板上拆下,芯片引脚上有锡渣没清理干净就放到烧录座上编程,造成编程器上电短路。如果编程器的电源过流保护不够完善,当遇到芯片或电路板短路时,轻则损坏编程器,重则可能会损坏芯片或电路板,造成严重的生产事故。第十八条:食品在烹饪后至出售前一般不超过2个小时,若超过2个小时存放的,应当在高于6℃或低于1℃的条件下存放。而在1℃至6℃的温度范围内细菌容易繁殖,盒饭温度低于6℃,细菌会加速繁殖。以往采用的老式温度计不能连续测温,只能获得几个节点上的数据。为了保证新学期开学后的学生集体用餐安全,本市市场监督管理局,已采用testo电子温度记录仪对盒饭的生产和运输过程进行“无线全程监控”。学生盒饭而有了testo温度记录仪,不仅能监控当天的食品安全,还能提供科学的、连续的动态数据。
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