HNDL100丝测试仪 熔断丝测试仪
项目
要求及指标
输入电压范围
220V±10﹪，50Hz/60Hz
测试电流范围
0.5~150A，1﹪RD±0.2﹪fs
测试开路电压精度
1﹪RD±0.2﹪fs
试验模式
熔断时间测试 M1和耐久性测试M2
测试时间范围
M1 模式时间范围:10mS--60分钟
M2 模式时间范围：10mS--100小时
耐久性时间设置
0~99H59M
次数设置
0~9999次
时间分辨率
10ms
测试电流步
50mA~1A，可设置
测试电流精度
M1 模式< ±0.4﹪SET + 50mA（‘SET’为设置数值），
M2 模式<±0.5﹪SET + 100mA（‘SET’为设置数值）
测试时间精度
M1 模式< ±10mS+0.3﹪RD（‘RD’为实际工作时间数值），
M2 模式<±10mS+0.5﹪RD（‘RD’为实际工作时间数值）
显示方式
7 寸触摸屏显示
控制方式
FPGA+ARM 控制
其他
支持外接 U 盘拷贝试验数据、数据保存功能，免费开放通信接口及提供底层通信协议
佳木斯管熔断时间测试仪ZA-517T中岸测试方法智能丝测试仪是一款用于小型熔断器性能测试的用仪器，用于管熔断时间、熔断电流的检测，满足标准G 9364.1-2015 、GB 9364.3-2018相关标准中的熔断、耐久性试验要求。本仪器采用7寸显示触摸屏显示和参数设置，采用ARM控制器进行控制采集，试验电流高达200A的试验设备。具有操作简便，智能可靠等特点。
目前，市场上的白光LED光衰可能是向民用照明进的要问题之一。四LED灯具散热器检测LED灯具散热器表面的温度分，如图：多热管散热结构，对LED灯具进行散热，通过热图对散热散热性能一目了然。品质管理一半导体照明吹制灯泡均匀性，通过红外热像仪抓拍产线玻璃吹泡的过程，进行参数修正，改善掐口工艺，可以有效提高产品成品率，降低成本。二LED检测芯片封装前的温度LED检测芯片封装前的温度LED芯片封装前检测温度可以避免封装后因温度异常，降低废品率。像ResearchIR一样，FLIRResearchStudio?允许您定制工作区，但是以一种全新的方式进行。我们可以选择一个布局，此布局可以只有一个窗格或多达4个不同的窗格，然后我们可以将实时码流从任何连接的摄像机和任何记录文件移动到这些不同的窗格中。我们甚至可以将多个相同类型的内容放在同一个窗格中，从而在窗格中添加了深度。当我们添加越来越多的图片、录像、实时码流和分析图标，有一个布局助手，帮助您选择在哪里放置一切。
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